- Модель продукта SN74BCT8244ADWR
- Бренд Texas Instruments
- RoHS Yes
- Описание IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
- Классификация Специальность Логика
-
PDF
Инвентаризация:1500
Технические детали
- Тип монтажа 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
- Количество витков Surface Mount
- Примечание 8
- Напряжение Scan Test Device with Buffers
- Крутящий момент - Винт 0°C ~ 70°C
- Ширина 4.5V ~ 5.5V
- Максимальное переменное напряжение 24-SOIC